氢气检漏法的基本原理
氢气检漏法是一种用5%的氢气和95%的氮气的混合气作为示踪气体进行检漏,称作氢氮混合气检漏法,或氢气检漏法。5%氢气与95%氮气的混合气体是不可燃的(ISO10156国际标准),无毒性和腐蚀性,也不会对设备和环境产生不利影响。氦检方法基本上可分为用氦气内部加压法和设备内部抽真空外部施氦这两种,由于后者需将设备完全抽成真空状态,往往会增加试验用设备(如高、低压真空泵、真空阀等)和设备工装(如外压加强圈)而使造价提高,所以该方法通常用于容积小而厚壁的设备。氢气作为检漏使用的示踪元素,有着很多的优点。
氢的分子量与氦气相近,是所有化学元素中分子量较轻的元素,有很好的扩散性,逃逸性很强,吸附及粘滞性很低。由于氢分子移动速度要高于其他分子,因此使用安全的低浓度氢气作为示踪气体,可以有着更快的响应速度和更好的检漏精度。同时,由于氢气在一般环境中的含量浓度都非常低,所以不会因本底污染而导致误报警。基本工作原理是使用专门开发的氢气传感器,它只对氢气有响应信号,而对其他气体没有响应,属于唯1性检漏性检漏方法。一旦出现信号响应,说明有氢气通过漏孔进入被检件中,从而指示漏孔的位置与大小。同时,由于氢气在一般环境中的含量浓度都非常低,所以不会因本底污染而导致误报警。
想了解更多产品信息,您可拨打图片上的电话咨询!北京科仪创新真空技术有限公司竭诚为您服务!
真空箱氢气检漏设备
真空打检机/真空检漏机采用声学技术,非接触式在线检测方式,速度800瓶每分钟。用于检测容器的密封性能,包括泄漏检测、真空检测、空罐。至少要在10-3mbar以下,空气的流动才体现为分子流,质谱仪才能稳定正常工作。适用于三片罐、三四旋盖、金属防盗盖封口的产品。世界领1先水进的声学技术真空打检机/真空检漏机当容器经过探头时,探头在容器顶部施加一个“非接触式”的敲击动作,使容器顶部发出声音,不同真空度的容器会发出不同的声音,先进的声学技术根据声音来判断容器是否发生泄漏。
本产品信息由科仪创新提供,如果您想了解更多您可拨打图片上的电话进行咨询,科仪创新竭诚为您服务!
真空箱氢气检漏系统的概述
本设备适用对空调换热器、冷凝器、蒸发器、压缩机、截止阀和冰箱、冷柜、雪融机等制冷行业产品(以下简称工件)进行真空法检漏。对工件充注干燥空气/氮气0-5Mpa,进行大漏及耐压检测,通过该装置判断出被检工件的大漏及耐压试验。3MPa,周围非常安静的条件下,可以听出5′10-2cm3/s的泄漏率的声音。然后将被检工件内的空气放空,放空后被检工件预抽真空,充注4%氢气和96%氮气至1.0-1.6Mpa.进行真空箱法检漏,检漏完成后工件及真空箱放空,保证了系统的可靠性和可维护性。设备应适用气密性检测、应具有大漏判定功能,微漏定量检漏功能,工件泄漏总的判定功能,并能满足连续生产的需求,具有较高的自动化程度,操作简便、安全、可靠。
北京科仪创新真空专注气密性检测设备研发,生产、销售20年。目前氦气资源的匮乏。在市场上氦气的价格一直居高不下。对工件充注干燥空气/氮气0-5Mpa,进行大漏及耐压检测,通过该装置判断出被检工件的大漏及耐压试验。大大增加企业生产检漏的运营成本。2012年北京科仪创新真空全球首推氢气检漏系统。在我国氢气制备工艺成熟。价格便宜。详细请咨询图片上的电话联系获取详细技术资料。
真空设备检漏
北京科仪创新真空技术有限公司(简称:科仪创新)出资成立,创建于2015年,注册资金500万。科仪创新产品主要有:薄膜制备设备,真空冶金设备,检漏设备,真空系统等非标真空产品;系列分子泵,离子泵,钛升华泵,深冷捕集泵等高真空获得设备;系列干式涡旋泵,干式爪泵,干式螺杆泵等无油真空获得设备;超高真空环境模拟设备等高新技术产品。工程安装维护商可以采用手持式氮氢检漏仪(有带气瓶/表组的套装产品供选择),在现场需要查找系统漏点时,先排空制冷剂,然后逐段充注5%氢+95%氮的示踪气体,用手持式氮氢检漏仪进行巡检式查漏。
如何选择检漏方式,与检测对象的工作环境有很大关系,尽量做到与检测对象的工作状态一致。如检测对象工作时内部处于正压,则用正压模式,如检测对象工作时内部处于负压,则用真空模式。客户也可以直接使用氢气检漏仪进行高灵敏的检漏以避免温度变化带来的对压降法检漏的影响。HLT260型氦质谱检漏仪具有嗅探和抽真空2种检漏模式,即正压模式和负压模式。详细检漏方法与测量工作过程如下:
在抽真空方式下,待检漏的器件通过测试端口与检漏仪相连,
待测器件被检漏仪内部的粗抽泵和分子泵抽到一定的真空(如果待测器件容积较大,则需额外的泵组一起协同作业以提高xiao率)。如真空设备(真空镀膜机,液晶注入机,PVD,半导体外延等等),需要在真空条件下工作,要求在工作时,空气不能漏进工作腔体,否则生产不能进行,或者产生次品,浪费人力物力。只需测量待测器件外部大气通过器壁的漏孔进入器件内部的氦的多少便可以判断漏率的大小。如果需要得到精que的漏率数值,则必须等待整个测量系统的真空达到稳态,